ნიმუშის ოპტიკური მუდმივების განსაზღვრის მეთოდების უმრავლესობა დაფუძნებულია ამ ნიმუშიდან არეკლილი პოლარიზირებული სინათლის ფაზის ან ინტენსიობის გამოკვლევაზე.
ამოცანის მიზანია დავადგინოთ ზედაპირული ფენის გარდატეხის მთავარი მაჩვენებელი n და შთანთქმის მთავარი მაჩვენებელი k, ანუ რეფრაქციისა და ექსტინციის კოეფიციენტები.
ორი გარემოს გამყოფ ზედაპირზე დაცემული პოლარიზირებული სინათლის ელექტრული ვექტორი შეიძლება დაიშალოს ორ მდგენელად რომელთაგანაც ერთი, დაცემის სიბრტყეში, ხოლო მეორე დაცემის სიბრტყის მართობულ სიბრტყეში მდებარეობს. მათ p და s პოლარიზირებული სინათლე ეწოდებათ.
სინათლის არეკვლის დროს მათი ფაზები და ინტენსიობები სხვადასხვა სიდიდით იცვლება. ამის გამო არეკლილი სინათლე ხდება ელიფსურად პოლარიზირებული. ნიმუშის ოპტიკური მუდმივების განსაზღვრის მეთოდები რომლებიც უკავშირდება პოლარიზაციის ელიფსის შესწავლაზე ცნობილია ელიფსომეტრიის მეთოდების სახელით.
ნიმუშის ოპტიკური მუდმივების განსაზღვრის სხვა მეთოდები დაფუძნებულია არეკლილი პოლარიზირებული სინათლის ინტენსიობის გამოკვლევაზე. მათგან ყველაზე უფრო ხშირად გამოიყენება ევერის მეთოდი. ამ მეთოდით ნიმუშის ოპტიკური მუდმივების განსაზღვრისათვის საჭიროა სინათლის სხივის დაცემის ორი კუთხისათვის განისაზღვროს p და s პოლარიზირებული სინათლის არეკვლის კოეფიციენტების ფარდობა და მიღებულ ექსპერიმენტულ მონაცემებზე დაყრდნობით განისაზღვროს ნიმუშის ოპტიკური მუდმივები.
განხილულია ევერის მეთოდის თეორია, მისი რეალიზაციისათვის საჭირო ექსპერიმენტული დანადგარი და მისი მოქმედების პრინციპი, ასევე ალგორითმი მონაცემების პროგრამული რეალიზაციისათვის.
| უკან |
